技术指标
x荧光光谱仪镀层厚度测量仪大品牌型号：Thick800A
元素分析的范围从硫（S）到铀（U）。
同时可以分析超过30种元素，并提供五层镀层的服务。
天瑞x射线荧光测厚仪的大公司分析内容通常在ppm到99.9%之间。
镀层的厚度通常不超过50微米（具体视材料而定）。
可以选择的多种分析和识别模型。
相互建立的基体效应校正模型。
上海电镀厂使用X荧光镀层测厚仪进行多变量非线性回收程序。
适用温度范围为15℃至30℃。
电源要求：交流220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。
外形尺寸：576（宽）×495（深）×545（高）毫米。
样品室的尺寸为：500毫米（宽）× 350毫米（深）× 140毫米（高）。
体重：90公斤
镀层分析仪
应用优势
上海某大公司采用荧光光谱仪对镀层进行厚度测量，针对不规则样品进行的激光定位测试点分析。
该软件能够分析25种元素的5层镀层。
通过软件控制样品移动平台，以满足不同测试点的测试需求。
配置高分辨率的Si-PIN半导体探测器，以用于多层涂层样品的分析。
内置高清摄像头，便于用户观察样品情况。
高灵敏度激光传感器保护测试窗口，避免样品的碰撞。
镀层分析仪
性能特点
上海的荧光光谱仪镀层测厚仪大公司能够满足各种厚度样品及不规则表面样品的测试需求。
φ0.1mm的小孔准直器能够满足对微小测试点的要求。
移动平台的可测试部分
天瑞X射线荧光测厚仪配备了高激光定位系统，可以实现自动检测高度。
通过定位激光来确定光斑的位置，确保测试点与光斑准确对齐。
鼠标可以控制移动平台，点击鼠标的位置即为测量点。
9(1).高分辨率JPEG探头
的辐射屏蔽效果
测试口传感器的保护措施。
江苏天瑞仪器股份有限公司专注于光谱分析仪器的研发、生产与销售，包括X荧光测厚仪、矿石分析仪、合金分析仪、ROHS分析仪、便携式光谱仪及电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）。此外，公司还涉及色谱和质谱领域，产品涵盖气相色谱质谱联用仪（GCMS）、液相色谱质谱联用仪（LCMS）及电感耦合等离子体质谱仪（ICPMS）。天瑞仪器为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地质矿产、塑料、石油、化工等多个行业提供全面的解决方案。
开启仪器电源开关时，动作要轻柔，避免用力过猛，以防损坏按键。
在将样品放入样品腔时，必须确保样品的清洁，避免灰尘颗粒掉入腔内，这样会污染X光管和探测器窗口，从而导致测量不准确和损坏探头。此外，操作时要轻拿轻放（使用镊子等工具），以防损坏测量窗口的薄膜。
样品盖需要定期用酒精棉球进行清洁。
每次开机后，仪器需先预热30分钟，并完成初始化，才能进行正常的检测工作。
在测量不同类型的样品时，必须从程序栏中选择相应的选项，以确保测量效果的准确性。
为了确保仪器正常运行，需要定期测试并调整仪器的各项参数。
