X射线涂层荧光测厚仪的基本配置。
X射线涂层荧光测厚仪采用开放式样品室设计。
的二维移动样品平台，配有可上下调节的探测器和X射线管，能够实现三维位移。
双激光定位系统。
铅玻璃护罩。
信号检测的电子电路。
高低压电源系统。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机和喷墨打印机
性能特点
X射线荧光测厚仪能够满足对不同厚度和不规则表面样品的测量需求。
φ0.1mm的小孔准直器可以满足对微小测试点的需求。
高移动平台的测试点重复定位低于0.005毫米。
X射线镀层光谱测厚仪采用高激光进行自动高度定位检测。
使用定位激光来确认光斑的位置，确保测试点与光斑准确对齐。
鼠标可以用来操控移动平台，鼠标点击的位置就是测量点。
高分辨率探头增强了分析结果的度。
出色的辐射屏蔽效果
对测试口高度敏感的传感器实施保护措施。
仪器介绍
钕铁硼磁铁镀镍测厚仪是一种设备，用于测量金属表面涂层的厚度，适用于镀金、镀银、镀铜、镀镍和镀锌等多种镀层。Thick800A电镀膜厚度测量仪器是天瑞基于多年的经验研发的设备，专为镀层行业而设计，具备全自动软件操作功能，能够进行多点测试。仪器的测试位置和移动平台均由软件进行控制。这是一款功能强大的设备，结合专门开发的软件，在镀层行业中表现优异。
技术指标
型号是：Thick800A。
元素分析的范围包括从硫（S）到铀（U）的所有元素。
可以同时检测超过30种元素，并支持五层涂层的分析。
镀层的厚度一般不超过50微米（具体数值会因材料的不同而有所变化）。
可选择多种分析和识别模型。
X射线镀层光谱测厚仪的独立基底效应校正模型。
多元非线性回收算法
适用的温度范围是15℃到30℃。
电源要求：交流电220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。
外形尺寸为：宽576毫米×深495毫米×高545毫米。
样品室的尺寸为500毫米（宽）× 350毫米（深）× 140毫米（高）。
体重为90公斤。
应用领域
对黄金、铂金、白银等贵金属及各种首饰的成分进行分析和检测。
对金属镀层厚度进行测量，以及对镀液和镀层成分进行分析。
钕铁硼磁铁镀镍测厚仪主要用于贵金属加工、珠宝制造行业，此外，还广泛应用于银行、珠宝销售机构和电镀行业。