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x射线荧光镀层测厚仪器产品标准配置介绍x射线荧光镀层测厚仪器开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压...
镀镍厚度检测仪产品技术推荐镀层分析元素：硫（S）~铀（U）镀镍厚度检测仪可同时分析，较多24个元素，单层、双层、较高5层镀层及合金镀层检测，且每层镀层都可分开显示各自镀层厚度镀层厚度分析范围：0.01~50um...
镀层厚度测试仪产品标准配置厂家推荐开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保...
Think 800A X射线电镀层膜厚仪产品性能介绍仪器介绍Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，...
电镀铑金层测厚仪产品性能推荐电镀铑金层测厚仪应用领域□Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag锌基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au塑胶基体－－-plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr1 快速：一般测...
rel="nofollow" X射线膜厚测试机产品技术性能介绍1 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；3 高移动平台可准确定位测试点，重复定位小于0.00...
金镍厚分析仪产品厂家技术推荐1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）； 2.同时检测元素：较多24个元素，多达5层镀层；3.分析含量：一般为2ppm到99.9%；4.镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）；5.SDD探测器：...
x-ray镀层厚度测试仪产品厂家特点介绍 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高移动平台可准确定位测试点，重复定位小于0.005mm采用高度定位激...
镀层锌厚度检测仪产品技术指标推荐型号：THICK600镀层锌厚度检测仪分析范围： Ti-U，可分析较高3层15个元素分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）测...
镀层锌厚度检测仪产品技术指标推荐型号：THICK600镀层锌厚度检测仪分析范围： Ti-U，可分析较高3层15个元素分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）测...
镀层锌厚度检测仪产品技术指标推荐型号：THICK600镀层锌厚度检测仪分析范围： Ti-U，可分析较高3层15个元素分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）测...
镀金测厚仪产品性能指标推荐 元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层 可同时分析多达五层镀层较薄可测试0.005μm分析含量一般为2ppm到99.9% 镀金测厚仪镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意...
镀银无损测厚仪产品性能指标厂家推荐型号：THICK800A 镀银无损测厚仪分析范围： Ti-U，可分析较高3层15个元素分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）...
电镀层厚度测试仪产品技术参数推荐 1分析元素范围：S-U电镀层厚度测试仪2可分析多达3层以上镀层3分析厚度检出限达0.02μm4多次测量重复性可达0.05μm5定位：0.5mm5测量时间：30s-300s6计数率：1000-8000cps7仪器...
X荧光电镀层测厚仪厂家产品技术推荐开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保...
X荧光ROHS设备产品标准配技术推荐移动样品平台电制冷Si-PIN探测器信号检测电子电路高低压电源大功率X光管计算机及喷墨打印机X荧光ROHS设备(XRF)主要由激发源X射线管产生入射X射线(X射线)，激发被测样品。受激发...
镀金层测厚仪产品技术指标公司推荐 元素分析范围：从钾（K）到铀（U）测量对象：固体、液体、粉末分析检出限可达：1ppm镀金层测厚仪分析含量一般为：1ppm到99.9%多次测量重复性可达：0.1%长期工作稳定性为：0.1%外观...
分析元素范围：K-UX射线镀层膜厚仪同时可分析多达5层镀层分析厚度检出限达0.005μm高压：5kV-50kV管流：50μA-1000μA测量时间：5s-300s样品腔尺寸：306mm×260mm计数率:0-10000cps长效稳定X铜光管脉冲处理器，...
XRF光谱卤素测试仪产品标准配置技术推荐高效超薄窗X光管SDD硅漂移探测器数字多道技术XRF光谱卤素测试仪光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式可靠...
浙江金属rohs检测仪产品技术推荐元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）元素含量分析范围：ppm—99.99%(不同材质，分析范围不同)同时分析元素：同时可以分析30种以上元素测量对象状态：粉末、固体、液体测量时间：60秒—...