镀银层厚度分析仪的产品介绍、技术规格及配置。
镀银层测厚仪EDX600PLUS是由天瑞仪器股份有限公司专门开发的一款下照式镀层厚度测量仪器，集合了多年的X荧光测量技术经验。该仪器操作简单、测量速度快，无需使用液氮，也不需要对样品进行预处理。它能够精准测量各种工业镀层的厚度和成分，包括电镀、化学镀和热镀等，同时也能够检测电镀液中金属离子的浓度，帮助企业计算成本并进行质量控制。该设备广泛运用于光伏、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车和通信等众多行业。
镀银层厚度分析仪应用领域
电镀行业
五金卫浴
磁性材料
航天新能源
电子电器
汽车制造
贵金属镀饰
硬件配置
镀银层厚度分析仪采用了高功率高压单元与微焦斑X光管，显著提升了信号输出的效率和稳定性。
EDX600PLUS能够分析多种元素，在检测多层涂层和复杂合金涂层方面具有独特的优势。
在选择准直器时，EDX600 PLUS展现出了明显的优势，能够与更小尺寸的准直器配合使用，例如0.1×0.3mm、0.15mm、0.2mm、0.3mm和0.5mm等。通过使用这些超小的准直器，可以实现更小的光斑，从而提升小样品测量的便利性。
设计亮点
镀银层厚度分析仪采用了全新的下照式设计，并配有一键操作按钮，这大大缩短了样本放置的时间。全新的光路系统显著减少了光斑的扩散，使得能够测试更小的产品。
配备高分辨率可变焦摄像头，并结合距离补偿算法，能够测量不规则样品，例如凹凸面、拱形、螺纹和曲面等。
软件界面
软件界面的设计强调人性化，简化了操作流程。
对曲线的中文说明旨在使您的操作更为简单明了。
实时监测仪器的硬件性能，让您在使用时更加放心。
