仪器概述：
镀金镀银厚度检测仪THICK800A采用X射线的穿透能力特点，对于表面电镀材料进行厚度的分析，该仪器主要由X光管，高压电源装置产生X射线，进而激发金属表面电镀元素进行识别，再通过高性能的电制冷探测器进行分析。镀金镀银厚度检测仪采用下照式结构设计更利于对特殊样品，小样品分析，分析速度快，适用于电镀厂，电子电器行业，水暖建材，工艺品等领域。
化金层光谱测厚仪THICK800A性能特点
镀金镀银厚度检测仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高移动平台可测试点，重复定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
化金层光谱测厚仪定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
镀金镀银厚度检测仪THICK800A技术参数
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
镀金镀银厚度检测仪THICK800A配置清单
开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器
保护传感器计算机及喷墨打印机
x射线镀层测厚仪THICK800A仪器结构
