X荧光多元素分析仪产品的用途:
X荧光多元素分析仪是天瑞仪器自主开发生产的仪器，主要应用于合金要素检测、ROHS检测、矿石要素分析、炉渣分析、土壤分析等。
硬件:硬件::
主机一台包括以下主要部件:
(1)x光管Rh目标(2)SDD电冷却半导体探测器。
(3)放大电路和数字多路分析器(4)高压电源系统。
(5)高清摄像机(6)自动切换准直器。
(7)自动切换过滤器(8)准直器和过滤器自由组合。
(9)可抽真空样板腔和真空泵(10)嵌入式液晶面板90mm×70mm。
软件和其他东西:
天瑞x荧光谱仪成分分析软件V2.0。
计算机算机和打印机。
资料:仪器使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检查合格证明书、包装证明书、保修证明书等应各提供资料。
IMG_2572.jpg标准附件:
x荧光多要素分析仪(准直孔:φ8.0mm、φ6.0mm、φ4.0mm、φ3.0mm、φ2.0mm、φ1.0mm、φ1.0mm、φ0.5mm、φ0.2mm各8个(内置在仪器中)
过滤器:5种组合(内置在仪器中)
标准样品(欧盟样品):0#样品、塑料样品各一张、银校正片一张。
技术指标:
分析要素范围:Na-U。
测量:0.05%(含量超过96%的样品)
高压:5kV-50kV。
管流:50μA-1000μA。
要素测量范围:PPM级-99.99%
能量分辨率:145±5eV。
测量时间:60s-300s。
计数率:计数率可达10000cps。
RoHS命令有害因素检测限制Cd/Pb/Cr/Hg/Br达到2ppm(根据基体的不同检测限制可能有一定的差异)。
x荧光多要素分析仪x荧光多要素分析仪的工作电源:交流220±5V。
周围不能有强电磁干扰。
环境温度要求:15℃-30℃。
环境相对湿度:<70%
