X射线膜厚测试仪厂家技术推荐
工作的特性。
可满足不同厚度和不规则裂纹样品的检测要求。
0.1毫米的小孔准直仪可以满足小测试点。
移动平台高定位试验，重复定位小于0.005mm。
利用高度定位激光，自动定位测试高度。
用激光定位光斑，确保测试点与光斑一致。
滑鼠控制移动平台，滑鼠点击的位置是测量点。
高分辨率探针使分析结果更接近破译。
光屏蔽效果很好
检测传感器的高度保护。
仪表的配置。
开放的样品室。
高、低压电源。
双激光定位设备。
X-光管。
玻璃夹子3号！
高传感器。
SDD探测器。
保护传感器。
信号检测电子电路。
电脑和喷码机。
x光膜厚度计精密二维移动样品台，使检测器和x光管上下移动，实现三维移动。
工艺参数。
成分分析范围:硫化硫和铀。
可同时分析:24种要素，5层镀层。
测定浓度:2ppm~99.9%
涂层厚度:不足50毫米(各材料不同)
有多种可选的分析和识别模式。
仪表尺寸:576(W)x495(D)x545(H)mm。
基体效应校正模型的巨大独立。
多种宣传非线性回收程序。
适用温度:151~30℃。
供电:建议交流220V±5V，配备交流净化稳定电源。
体重:90公斤。