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江苏天瑞仪器股份有限公司

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Thick800Ax-ray膜厚仪是天瑞集多年的经验,研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。

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X荧光测厚仪的设计特点 采用上照式设计,能够适应多种异型微小样品的测试需求。与传统光路相比,信号采集效率提升超过两倍。配备可变焦高精度摄像头及距离补正系统,能够满足对微小产品、台阶、深槽和沉孔样品的...

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样品台尺寸:230(W)×210(D)mm 移动范围:50(X)mm, 50(Y)mm 铜锡合金镀层测厚仪Z轴升降平台升降范围:0-140mm SDD半导体探测器: 探测器输入电压:±12V,+5V

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