镀银端子测厚仪是天瑞集多年的经验,研发生产的用于镀层行业的一款无损测试仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业...
国产x射线荧光镀层测厚仪全新的下照式设计,一键式的按钮,让您的鼠标键盘不再成为必须,极大减少您摆放样品的时间。
半导体镀层测厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求页面预览
金属镀层镀层厚度测量仪采用高度定位激光,可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置是被测点 高分辨率探头
电镀层厚度检测仪器SDD探测器:分辨率低至135eV 准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合 仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm 样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm 样品...
x光电镀测厚仪器产品特点 样品处理方法简单或无前处理 可快速对样品做定性分析 对样品可做半定量或准定量分析 谱线峰背比高,分析灵敏度高 不破坏试样,无损分析
Thick800A元器件镀银测厚仪是天瑞集多年的经验,研发生产的用于镀层行业的一款无损测试仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,...
铜件镀银厚度测试仪:Thick800A 测定步骤: 步:新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线 第二步:确定测试时间:40S 第三步:测试其重复性得出相对标准偏差
镀银厚度测厚仪型号:Thick 800A 元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 同时可以分析30种以上元素,五层镀层。 分析含量一般为ppm到99.9% 。 镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同) 任意多个可选择的分析...
镀银厚度分析仪型号:Thick 800A 元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 同时可以分析30种以上元素,五层镀层。 分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同) 节能玻璃镀银厚度测试仪任意多个可选择的分析和识别模型。 相互立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序 度适应范围为15℃至30℃。 电源: 交流220V±5V,...
镀铜镍铬银金层测厚仪器针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析; 软件可分析5层25种元素镀层; 通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求; 配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品...
镀层厚度测定仪:Thick800A 测定步骤: 步:新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线 第二步:确定测试时间:40S 第三步:测试其重复性得出相对标准偏差
电力系统中的镀银层厚度测试仪注意事项 开启仪器电源开关时,动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。 向样品腔放置样品时,要注意样品的洁净,不可使尘粒掉入其中,否则会污染X光管和探测器窗口,造成测量失准...
断路器触头镀银厚度仪注意事项 开启仪器电源开关时,动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。 向样品腔放置样品时,要注意样品的洁净,不可使尘粒掉入其中,否则会污染X光管和探测器窗口,造成测量失准和探头损...
镀银端子测厚仪
镀银端子测厚仪
国产x射线荧光镀层测厚仪
国产x射线荧光镀层测厚仪
半导体镀层测厚仪中磷镍厚度检测仪天瑞工厂
半导体镀层测厚仪中磷镍厚度检测仪天瑞工厂
金属镀层镀层厚度测量仪
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金属镀层膜厚测试仪
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电镀层厚度检测仪器
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x光电镀测厚仪器
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元器件镀银测厚仪
元器件镀银测厚仪
铜件镀银厚度测试仪
铜件镀银厚度测试仪
半刚电缆镀银厚度测厚仪
半刚电缆镀银厚度测厚仪
真空断路器触头镀银厚度分析仪
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节能玻璃镀银厚度测试仪
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镀铜镍铬银金层测厚仪器
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镀层厚度测定仪
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电力系统中的镀银层厚度测试仪
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断路器触头镀银厚度仪
断路器触头镀银厚度仪