陶瓷镀金测厚仪是一种采用下照式结构的镀层厚度测量仪器，操作简单快捷，无需液氮和样品的前期处理。结合荧光X射线膜厚仪的压单元和微聚焦X光管，确保了信号输出的高效性和稳定性。
荧光X射线膜厚仪在选择准直器方面，EDX600PLUS具有显著的优势。它可以配备更小的准直器，如0.1*0.3mm、φ0.15mm、φ0.2mm、φ0.3mm、φ0.5mm等。使用极小的准直器可以获得更小的光斑，从而使得对微小样品的测量变得更加轻松自如。
结合高分辨率可变焦摄像头与先进的距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面、拱形、螺纹、曲面等）的测试。
陶瓷镀金测厚仪EDX600 PLUS的技术规格
尺寸规格
陶瓷镀金测厚仪设计形式为台式仪器，测量时盖子向上打开。
测量方向：自下而上
仪器的重量为45公斤。
外形尺寸（毫米）：497（宽）×427（深）×468（高）
样品室的尺寸为：415毫米（宽）× 374毫米（深）× 218毫米（高）。
X射线源
X射线管：微聚焦W靶射线管
X射线管的高压和电流：进口大功率高压单元
准直器（孔径）：可选择的规格有φ0.2mm、φ0.3mm、φ0.5mm和φ0.1*0.3mm，另外也可以根据需要定制其他尺寸。
信号接收器：Fast-SDD大窗口探测器
分析方法：兼容FP与EC法的能量色散X荧光分析技术。
同时检测镀层和元素：能够分析超过5层的镀层，并测量多达24种元素。
测量的元素范围包括从13号铝(Al)到92号铀(U)之间的所有元素。
检出限：金属镀层分析薄可达0.0025μm。
荧光X射线膜厚仪的厚度测量范围一般为0到120微米（具体值因材质而异）。
厚度的标准偏差：相对标准偏差小于3%
检测范围：0.1%至99.9%
检测时间：超过5秒
样品观察设置
样品照明：可调亮度的LED灯，垂直环绕在下方照射。
样品观察对焦：高分辨率彩色CCD变焦工业摄像头，沿着主X射线光束方向对测量位置进行观察，带有经过校正的刻度和指示测量点的十字线，采用手动测距对焦方式。
倍率：图像放大范围为20倍至160倍，可清晰观察微小样品。
样品移动平台：手动 X/Y 高移动平台
防护
操作环境的温度范围是0℃到30℃，湿度不得超过70%。
工作电源要求：交流电220V±5V
荧光X射线膜厚仪的特点：该平台采用凸出设计，开盖时自动停止工作，配备多种金属和铅玻璃以防止辐射，确保用户的安全。
X荧光镀层厚度测厚仪用于对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度和电镀液中的金属离子浓度进行精准检测，帮助企业准确计算成本和质量管控。该仪器广泛应用于光伏产业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车制造、通讯行业等领域。
