镀金x荧光镀层测厚仪满足不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 移动平台可测试点 采用高度定位激光,可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑,确保测试...
锌镍合金镀层厚度测量仪的标准配备 开放式样本腔。 二维移动样品平台,探测器与X光管可上下调整,从而实现三维移动。 双激光定位系统。
x荧光电镀层测厚仪启动仪器电源开关时,应动作缓慢,避免用力过大,以免损坏按键。 在将样品放入样品腔时,必须确保样品的干净,避免尘埃掉入腔内,因这会污染X光管及探测器窗口,导致测量不准确并可能损坏探头。...
技术指标 X荧光镀层光谱测厚仪型号为:Thick 800A。 元素分析的范围包括硫(S)至铀(U)。 可以同时分析超过30种元素,并且具有五层镀层。
半导体镀层测厚仪是一种专门为测量镀层厚度而设计的新型仪器。它主要用于金属镀层厚度的测量、电镀液及镀层成分的分析,以及对黄金、铂金、银等贵金属及各种饰品的含量检测。
X荧光镀层厚度仪主要用于检测镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀银和镀铜等金属镀层的厚度。thick800A金属镀层膜厚仪基于X射线原理,是一种快速、无损的电镀层厚度测试仪器,广泛应用于卫浴、高压开关、电器连接器、精密五...
通过软件控制样品移动平台,以满足不同测试点的测试需求。 配置高分辨率的Si-PIN半导体探测器,以便对多层镀样品进行分析。 内置高清摄像头,方便用户查看样品状态; 高度激光敏感的传感器用来保护测试窗口...
XRF镀层分析仪的产品功能 满足各种厚度和不规则表面样品的测试需求。 φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。 高精度移动平台能够定位测试点,其重复定位精度低于0.005毫米。
全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对更小产品的测试。 x荧光镀层测厚仪搭配高分辨率可变焦摄像头,配合高性能距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的测试。
镀锌镍快速无损膜厚仪采用Fast-SDD探测器,高达129eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。 镀银层厚度检测仪搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定...
光伏焊带镀层厚度分析仪软件界面 人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。曲线的中文备注,让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。
x射线光谱膜厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 采用高度定位激光,可自动定位测试高度 x射线光谱膜厚仪定位激光确定定位光斑,确保测试点与光...
苏州x射线膜厚仪型号规格:Thick800A 元素分析范畴从硫(S)到铀(U)。 苏州x射线膜厚仪另外能够剖析30种之上原素,五层镀层。 剖析含量一般为ppm到99.9%。
镀金x荧光镀层测厚仪
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苏州X荧光镀层测厚仪
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XRF锌镍合金镀层测厚仪
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国产x荧光电镀层测厚仪上市公司
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x荧光镀层光谱测厚仪
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半导体镀层测厚仪
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国产X荧光测厚仪器
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镀锌镍快速无损膜厚仪
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光伏焊带镀层厚度分析仪
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x射线光谱膜厚仪
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苏州x射线膜厚仪
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镀层测厚仪x射线
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