仪器概述：
X荧光镀镍测厚仪THICK800A利用X射线的穿透特性，对表面电镀材料的厚度进行分析。该设备主要由X光管和高压电源装置组成，能够产生X射线并激发金属表面的电镀元素进行识别，再通过高性能的电制冷探测器进行数据分析。仪器采用下照式结构设计，特别适合对特殊或小型样品的分析，具备快速分析的能力，广泛应用于电镀厂、电子电器行业、水暖建材、工艺品等多个领域。
x荧光镀镍测厚仪THICK800A的性能特点如下：
x荧光镀镍测厚仪能够满足各种厚度和不规则表面样品的测试要求。
φ0.1mm的小孔准直器能够满足对微小测试点的要求。
高移动平台的测试点重复定位小于0.005mm。
使用高激光，可以自动确定测试的高度。
化金层光谱测厚仪通过定位激光确定光斑位置，以确保测试点与光斑对齐。
鼠标可以操控移动平台，点击鼠标的位置即为测量点。
高分辨率探头提升了分析结果的度。
良好的辐射屏蔽效果
测试口的高度敏感性传感器防护措施
化金层光谱测厚仪THICK800A的技术参数
型号：厚型800A
元素分析的范围包括从硫（S）到铀（U）。
可以同时分析超过30种元素，并具有五层镀层。
分析含量通常在ppm到99.9%之间。
镀层的厚度通常在50微米以内（具体视材料而定）。
多个可选的分析与识别模型。
互不依赖的基体效应校正模型。
多变量非线性回归程序
温度适宜范围为15℃到30℃。
电源要求：交流220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。
外观尺寸：576（宽）×495（深）×545（高）毫米
样品室的尺寸为：500（宽）×350（深）×140（高）毫米。
体重：90千克
X荧光镀镍测厚仪THICK800A的配置清单
开放式样品腔，配备精密的二维样品移动平台，探测器和X光管可进行上下移动，达到三维位移。设有双激光定位装置，并配有铅玻璃屏蔽罩和Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器。
保护传感器电脑和喷墨打印机。
