EDX2000Axrf金属镀层膜厚仪是一款全自动微区膜厚测试仪,可以对各种形状的样品,如平面、凹凸面、拐角和弧面等进行快速而精准的分析。这款仪器能够满足半导体、芯片以及PCB等行业对非接触微区镀层厚度测试的需求。它通过自动化的三维移动功能(X轴、Y轴、Z轴)以及双激光定位和保护系统,确保测试的高效性和准确性。
xrf金属镀层膜厚仪的应用领域
电镀行业、电子通信、航天新能源、五金卫浴以及电器设备。
汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高等院校及科研机构等。
硬件配置
XRF金属镀层膜厚仪配备了Fast-SDD探测器,具有高达129eV的分辨率,能够精准解析每种元素的特征信号。对于复杂的基材和多层镀层,该仪器也能轻松进行测试。
配备大功率X射线管,可以有效保证信号输出和激发的稳定性,从而降低仪器的故障率。
高的自动化系统实现了X、Y、Z轴的三维联动,能够更加和迅速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位工作。
XRF金属镀层厚度仪的设计亮点。
上照式设计可适应更多异型微小样品的检测。相比传统光路,信号采集效率提高了两倍以上。可调焦的高摄像头搭配距离补偿系统,满足微小产品、台阶、深槽和沉孔样品的测试需求。配备可编程自动位移平台,能够进行微小密集型的多点测试,显著提升测样效率。同时,该系统自带数据校对功能。
XRF金属镀层厚度测量仪的软件界面
人性化的软件界面使操作更加方便。
曲线的中文说明,使您的操作更加简单易懂。
实时监控仪器硬件功能,确保您的使用更加安心。