江苏天瑞仪器股份有限公司的X射线膜厚测量仪器，专用于镀金层的厚度测量。
电镀产品测厚仪Thick800A是天瑞仪器镀层系列中的一款“明星产品”，它具有智能化配置，二维移动平台几乎实现了三维效果，测试点之间的间距非常微小。该仪器采用上照式检测方式，能够满足不同规格产品的测试需求，降低了对产品规格的限制，方便用户随时使用。主要用于检测镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯、镀铑和镀银等金属的镀层厚度。
印刷线路板上的IC导线、接触针以及导体等部件对测量的要求较高。一般而言，镀膜厚度的测量基本需要满足以下要求：
1.在不损坏的情况下进行高测量。
2.非常小的测量面积。
3.中间镀膜及其材料成分不会影响测量结果。
4.同时进行上层和中层镀膜的测量，互不干扰。
5.同时间测量双合金的镀层厚度及组成成分。
X-射线荧光法能够在不受材料和不同中间膜影响的情况下，进行高的测量。
X射线膜厚仪用于测量镀金层的主要特点
1.无损且快速地测量各种电镀层的厚度。
2.电镀层可以是单层、双层或三层。
3.可以测量镀金、镀银、镀镍以及镀铜等表面处理。
4.有电镀液成分分析和金属成分分析等相关软件。
5.操作简单/易于维护
6.准直器的程控交换系统可以同时安装六种不同规格的准直器，并进行程序交换控制。
可选择多种规格和尺寸的准直器：
圆形，如4、6、8、12、20密耳等。
矩形的尺寸可以是1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等。
7.测量斑点的大小
在12.7毫米的聚焦距离下，测量到的小斑点尺寸为0.15 x 0.15毫米（使用0.15 x 0.15毫米的准直器）。
在聚焦距离为12.7毫米时，测得斑点尺寸为0.38 x 0.42毫米（使用了0.30 x 0.30毫米的准直器）。
名称与型号：X射线膜厚仪金层厚度测量仪
镀层的厚度通常在50微米以内（不同材料可能有所差异）。
可以选择的多种分析与识别模型。
相互独立的基准效应修正模型。
多变量非线性回归程序
温度适应区间为15℃到30℃。
元素分析的范围涵盖从硫（S）到铀（U）。
可以同时分析超过30种元素，具有五层镀层。
分析含量通常在ppm（百万分之一）到99.9%之间。
电源要求：交流220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。
外形尺寸： 576（宽）×495（深）×545（高）毫米
样品室的尺寸为：500毫米（宽）×350毫米（深）×140毫米（高）。
体重：90公斤
应用领域
检测黄金、铂金、白银等贵金属以及各种首饰的成分含量。
金属镀层的厚度测量以及电镀液和镀层成分的分析。
X射线膜厚仪和镀金层测厚仪主要应用于贵金属加工和首饰制造行业，也适用于银行、珠宝销售及检测机构以及电镀行业。
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司专注于生产多种仪器，包括电镀产品的测厚仪、ROHS检测仪、气相色谱质谱联用仪、等离子发射光谱仪、X射线测厚仪、ROHS检测设备及X射线镀层测厚仪。同时，公司还提供气相色谱仪、ROHS测试仪、液相色谱仪以及ROHS2.0新增的四项分析仪器和手持式矿石分析仪、双酚A检测仪。
