仪器介绍
常州X射线荧光镀层测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪。该仪器配备了大铍窗超薄窗口的高分辨率SDD探测器，其分辨率达到139eV，处于国际水平。产品采用了上照式设计，配备多重防辐射保护装置和X射线发生器，确保辐射剂量符合国际标准。样品观察系统则使用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位技术，并通过自主研发的测厚分析软件进行操作，各项技术指标均符合相关要求
技术指标
仪器名称：常州X射线荧光镀层厚度测量仪
型号：厚款800A
外形尺寸：576毫米（宽）×495毫米（深）×545毫米（高）
样品室的尺寸为：500毫米（宽）× 350毫米（深）× 140毫米（高）。
常州X射线荧光镀层测厚仪的样品台尺寸为230mm（宽）×210mm（深）。
Z轴升降平台的升降范围为0至140毫米。
平台的移动测量范围为：宽度50毫米、深度500毫米、高度135毫米。
分析方法：兼容FP和EC法的能量色散X荧光分析技术。
XRF镀层测厚仪的测量范围包括原子序数为16（硫）到92（铀）之间的所有元素。
同时检测可以分析24种元素，并支持五层镀层的测量。
检测限：金属镀层分析的可检测厚度为0.005微米。
厚度范围：镀层的分析一般在50μm以下（具体情况因材料而异）。
稳定性：经过多次测量，重复性可达到1%。
检测时间范围：30至60分钟。
探测器及其分辨率：25mm2 Be窗口的SDD探测器，分辨率为140±5 eV。
常州X射线荧光镀层测厚仪的激发源为50KV/1000uA的铝靶X光管以及高压电源。
多道分析技术：DMCA数字多道分析，支持4096道的分析能力。
固定Φ0.2mm的准直器和滤光片，可根据需要选配其他孔径和铝滤光片。
定位：平台电机的重复定位低于0.1微米。
样品观察：配备CCD彩色摄像头，图像放大可达40倍，能够清晰定位微小样品。
平台稳定性：Z轴测试平台使用恒力弹簧来平衡重力，从而实现平台的恒定升降，减轻了Z轴电机的负担，并提高了Z轴的垂直度。
安性双重安全保护装置：包括防撞激光探测器和样品室门的开闭传感器；在待机状态下无辐射，工作时的辐射水平远低于国际安全标准，并配备了软件联动装置。
操作环境的温度和湿度应保持在15℃到30℃之间，湿度不超过70%。
仪器的重量为90公斤。
常州X射线荧光镀层测厚仪的工作电源为交流220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。
