铜基体镀银层测厚仪是天瑞公司基于多年经验研发的无损测试设备，专为镀层行业设计。该仪器具备全自动软件操作功能，支持多点测量，软件能够控制测试点及移动平台。这是一款功能强大的仪器，配合专门开发的软件，广泛应用于镀层行业。
铜基体镀银层厚度测量仪的特点
上照式
2.高清探测器
3.鼠标指针定位测试点
4.测试组件可以进行升降调整。
可视化操作
良好的辐射屏蔽
7.高机动性平台
8.自动高度定位
*大样品腔
10. 小孔准直器
11.自动检测光斑
测试防护
铜基材银镀层厚度测量仪器
性能特点
铜基体镀银层测厚仪能够满足对不同厚度和不规则表面样品的测试要求。
φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。
移动平台能够定位测试点。
使用高激光技术，能够自动测定测试高度。
使用定位激光确定光斑位置，以保证测试点与光斑对齐。
鼠标可以控制移动平台，点击鼠标的位置就是被测量的点。
高分辨率探测器
有效的射线防护效果
测试口传感器的保护措施
铝铜金层测厚仪
镀层样品测试的注意事项
首先需要确认基材和各层镀层的金属成分以及镀层元素的顺序。天瑞XRF荧光测厚仪能够测量多五层金属镀层的厚度。
通过测定镀层基材，可以确认基材中是否存在会影响镀层元素特征谱线的物质，例如在PCB印刷电路板基材中的环氧树脂含有的溴元素。
对于底材成分不是纯元素且与标准片底材元素含量不一致的情况，需要进行基材修正，选择与样品相似的底材进行曲线标定。
铜基体银层厚度测量仪
天瑞为其销售的仪器提供了扩展空间，能够满足客户在新产品研发过程中对其他检测项目的需求。天瑞的化学实验室可为客户提供的样品分析服务。江苏天瑞仪器股份有限公司是一家拥有自主知识产权的高科技企业，位于风景如画的江苏省昆山市阳澄湖旁。公司专注于光谱（X射线镀层测厚仪、ROHS光谱仪、成分分析仪）、色谱（液相色谱、气相色谱）、质谱（气质联用、液质联用仪器）等分析测试仪器及其软件的研发、生产与销售。
