镀层膜厚分析仪满足各种不同厚度样品以及不规则裂面样品的测试需求
详情介绍
镀层膜厚分析仪性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则裂面样品的测试需求
0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光定位光斑，确保测试点与光斑对齐
镀层膜厚分析仪鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被測点
高分辨率探头使分析结果更加准破
良好的射线屏蔽作用
测试高度敏感性传感器保护
仪器配置
开放式样品腔
镀层膜厚分析仪高低压电源
双激光定位装置
X光管
钳玻璃屏蔽3!
高度传感器
SDD探测器
保护传感器
信号检测电子电路
计算机及喷墨打印机
二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动
镀层膜厚分析仪Thick 800A技术参数
元素分析范围：硫~铀
可同时分析：多24个元素，5层镀层
分析含量：2ppm~99.9%
镀层厚度：50師以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
仪器尺寸：576 (W) x495(D)x545(H)mm
相巨独立的基体效应校正模型
多变宣非线性回收程序
温度适应范围：151~30笆
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
重量：90kg
