5g陶瓷滤波器镀银层测厚仪产品说明、技术参数及配置
EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(5g陶瓷滤波器镀银层测厚仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。
详情介绍
天瑞仪器 EDX 2000A 是一款全自动微区膜厚测试仪，以下是其详细介绍：
特点及优势
上照式设计：可适应更多异型微小样品的测试，如半导体、芯片及 PCB 等行业的非接触微区镀层厚度测试。
信号采集高效：全新光路，更短光程，相较传统光路，信号采集效率提升 2 倍以上。
摄像头配置优良：可变焦高精摄像头搭配距离补正系统，能兼顾微小产品以及台阶、深槽、沉孔样品的测试需求。
测试高效：可编程多点测试，能自动完成对多个样品多个点的测试，大大提高测样效率。还自带数据校对系统，让用户无需担心数据突然变化。
5g陶瓷滤波器镀银层测厚仪硬件配置高：采用进口高分辨率的 FAST SDD 探测器，分辨率高达 140eV，能精准解析每个元素的特征信号，对复杂底材以及多层复杂镀层优势明显。进口的高功率大高压单元搭配进口大功率 X 光管，保障信号输出与激发的稳定性，降低故障率。高自动化的 X 轴、Y 轴以及 Z 轴三维联动，可快速完成对微小异型测试点的定位。
软件界面人性化：人性化软件界面，操作便捷。曲线有中文备注，易于上手。还能实时监控仪器硬件功能，让使用更放心。
测试指标
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。
元素与镀层分析能力：可同时分析多 24 个元素，5 层镀层。
镀层厚度范围：0.005μm—50μm。
测量重复性：多次测量重复性可达 2%。
长期工作稳定度：为 3%。
应用领域
5g陶瓷滤波器镀银层测厚仪适用于金属镀层的电镀、化镀、热镀等镀层厚度分析测量，电镀液成分测试，合金镀层成分及厚度分析，以及首饰定性半定量分析以及镀层厚度分析，广泛应用于电子通讯、航天新能源、电器设备、汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研所等领域。
标准配置
包括开放式样品腔、推拉式屏蔽罩、SDD 探测器、信号检测电子电路、探测器保护传感器、计算机及喷墨打印机、精密二维移动样品平台、大行程升降测试框。
仪器参数
尺寸：485（W）×588（D）×505（H）mm。
重量：60kg。
X 射线源：X 射线管电压 5 - 50KV 可调，电流 50 - 1mA 可调，制冷方式为密闭型风冷。
准直系统：标配￠0.2mm（可根据要求选配）。
滤光片：Al 滤光片（可根据要求选配）。
样品观测配置：样品照明为 LED 灯上方垂直照射，观察采用彩色 CCD 摄像头，倍率 25 倍，视野 6×4.8mm。
自动对焦功能：高度激光自动对焦。
电动 XY 高移动平台：移动范围 100mm（X），100mm（Y），分辨率 5μm，重复定位＜10μm，步进电机步距角 1.8°，载重量 3kg（无倾斜）。
Z 轴升降平台：升降幅度范围 0 - 140mm。
电源输入：AC220±10%，5A，50/60HZ。
