镀锡层测厚仪价格
镀锡层测厚仪价格EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验，研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行准确检测，帮助企业准确核算成本及质量管理。
镀锡层测厚仪价格设计特点：
X 射 线 装 置
微聚焦X射线管和高分辨率的探测器配置，提高信号输出，让测量准确；根据产品测试xu求选择合适的探测器配置仪器：大窗口正比计数管、半导体探测器。
变焦装置和距离补偿
高清工业调焦摄像头可对检测距离进行补偿修正，不仅可以准确测量平面产品，针对弧面、曲面、凹槽等异形工件也可以准确检测。
微 光 聚 焦
新光路系统，减少光斑的扩散，对于多镀层和复杂合金镀层的测量较好的应对。
大空间样品仓
大的测量室尺寸适应不同规格的产品检测。
天瑞 zhuan利的智能FP 算法
一键式操作按钮配合智能化的软件算法，只需短短几秒既可，实现快速检测准确分析。
苏州X荧光金属膜厚分析仪技术参数：
设计形式：台式仪器，测量盖向上开启
测量方向：从下至上
仪器重量：45kg
外型尺寸(mm)：497(W)×427(D)×468(H)
样品室尺寸(mm)：415(W)×374(D)×218(H)
X射线源
X射线管：微焦斑W靶射线管
X射线管高压、电流：jin 口 da 功率高压单元
准直器(孔径)：可选φ0.2mm,φ0.3mm,φ0.5mm,φ0.1*0.3mm,还可按要求定制其它规格
X射线检测
信号接收器：Fast-SDD大窗口探测器
分析方法：FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法
同时检测镀层及元素：可同时分析5层以上镀层，并测量24种元素
测量元素范围：13Al(铝)~92U(铀)之间的元素均可测量
检出限：金属镀层分析zui 薄可0.0025μm
厚度范围：分析镀层厚度一般在0~120μm以内(每种材质有所不同)
厚度标准偏差：RSD<3%
含量测试范围：0.1%~99.9%
检测时间：5秒以上
样品观测配置
样品照明：LED灯，下方垂直环绕照射(可调节亮度)
样品观察对焦：高分辨率彩色CCD变焦工业摄像头，沿初级X射线光束方向观察测量位置，带有经过校正的刻度和测量点指示的十字线，手动测距对焦
倍率：图像可放大倍数20x-160x,实现微小样品清晰 ding wei
样品移动平台：手动X/Y gao jing 度移动平台
防护
操作环境温湿度：0℃~30℃,湿度≤70%
工作电源：交流220V±5V
An quan 性：平台的凸出设计，开盖停止 bao hu ，多重金属及铅玻璃防止辐射，保障用户 an quan 。
