半导体镀层测厚仪注意事项
开启仪器电源开关时，动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时，要注意样品的洁净，不可使尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，造成测量失准和探头损坏；同时，还要注意轻拿轻放（使用镊子等器具取放样品），以免测量窗口的薄膜被破坏。
半导体镀层测厚仪样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
每次开机后，仪器都必须先预热30分钟，然后进行初始化，方可进行正常的检测工作。
半导体镀层测厚仪测量不同类型的样品时，需从程序栏中选择其对应的选项，才能保证的测量效果。
为使仪器能长期保持工作正常，需定期对仪器的各项参数进行测试，并进行调整。
半导体镀层测厚仪EDX 600 PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
应用领域
电镀行业
五金卫浴
电子电器
磁性材料
航天新能源
汽车制造
贵金属镀饰......
软件界面
人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。江苏天瑞仪器股份有限公司是一家研发、生产X荧光镀层测厚仪,直读光谱仪，手持式光谱仪，手持式合金分析仪，气相质谱仪,液相质谱仪，ROHS测试仪，电感耦合等离子发射光谱仪，等离子体质谱仪,手持式不锈钢材质检测光谱仪,镀层膜厚测试仪，X荧光测厚仪的厂家，分析仪器上市公司，公司坐落于江苏省苏州市昆山市，欢迎广大客户前来参观考察。