x射线镀层膜厚荧光测厚仪单样品腔。 正比计数盒探测器。 信号检测电子电路。 高低压电源。 X光管。 外观尺寸： 430×380×355mm 样品腔尺寸：306×260×78mm 重量：30kg 应用领域 黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。 金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
x射线镀层膜厚荧光测厚仪高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm 采用高度定位激光，可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加，微小测试点更。 X射线镀层测厚仪厂家优势在于满足客户要求的情况下，价格更优惠、售后服务更方便，维护成本更低。
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