电镀层厚度分析光谱测厚仪贵金属检测、镀层厚度检测。 智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序。 技术指标 元素分析范围：从硫（S）到铀（U）。 测量对象：固体、液体、粉末 分析检出限可达：ppm。 分析含量一般为：ppm到99.9％
在现代工业中，测厚仪扮演着至关重要的角色。无论是在金属加工、涂层检测，还是在建筑业和汽车制造等领域，测厚仪的应用无处不在。 电镀层厚度分析光谱测厚仪随着科技的不断发展，测厚仪的种类和功能也在不断升级，已成为工程师和技术人员日常工作中不可或缺的一部分。
电镀层厚度分析光谱测厚仪具有不同的工作原理。以超声波测厚仪为例，其工作原理简单高效。当超声波阵列发射器产生超声波脉冲后，超声波会在介质内传播，遇到不同介质的界面时，会部分反射回来。测厚仪通过接收返回的反射波，结合声速计算出材料的厚度。