EDX4500HROHS检测设备利用XRF检测原理迅速、准确、无损地分析各种要素成分。SDD硅漂移探测器具有良好的能量线性、能量分辨率和可谱特性。

产品说明、技术参数和配置。

EDX4500HROHS检测设备利用XRF检测原理迅速、准确、无损地分析各种要素成分。

该仪器的主要特点是利用智能真空系统，对Si、P、S、Al、Mg等轻量元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可以正确分析高含量的Cr、Ni、Mo等重点要素，在冶炼过程控制中测试时间短，大大提高了测试效率和工作效率。

另外，合金分析、全要素分析、有害要素检测的应用也非常广泛。