X荧光元素分析仪产品介绍
X荧光光谱分析仪Smart100是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的一款新型高端测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现超高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维移动平台及高清工业摄像头，实现样品定位。（可对99.99%黄金进行有效分析）
性能特点
快,1秒钟出结果
1、采用行业先进的极速探测器技术——（SDD）分辨率至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
2、采用行业先进的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率超过600KCPS
3、采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试
超小样品检测——可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
可高效区分99.9%及99.99%黄金纯度
可测量贵金属中有害元素，铅、镉等
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，关机前可设定声光提示
技术参数
测量元素范围：硫(S)～铀(U)
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
元素含量分析范围：2ppm～99.99%
探测器：SDD探测器，分辨率可达125eV
管流：≤1000uA
管压：5～50kV
测量时间：1s或以上(可调)
滤光片：4种滤光片自由切换
准直器：8种准直器自动切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70%
环境温度：15℃～30℃
制冷方式：电制冷，无需任何耗材
输入电压：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源
仪器配置
SDD探测器
数字多道分析系统
X射线源
高低压电源
准直器滤光片系统
精密移动平台
光闸系统
样品观测系统
电子控制系统
计算机及喷墨打印机
应用领域
首饰加工厂
金银珠宝首饰店
贵金属冶炼厂
质量检验部门
分析测试中心
典当行
贵金属回收仪器介绍
X荧光元素分析仪EDX6000B ，内置自动移动转盘10个样品更换器，可无人值守连续测量多个样品，操作简单方便，性能可靠。能分析固体，压片，薄膜，涂层，广泛用于地质土壤分析，钢铁有色，矿料分析，水泥，耐火材料，磁性材料等领域。
性能优势
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术参数
元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—99.99%(不同材质，分析范围不同)
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：检出限达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度：≤70%
工作电压：AC 110V/220V
仪器配置
高效超薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 510×589×350 mm
样品杯尺寸（10个）：40.7×26mm
重量：55Kg
移动转盘：10个样品自动更换器，操作简单，方便，省事，可实现无人值守自动处理大量样品。
样品转盘
应用领域
水泥检测
地质土壤分析
耐火材料
磁性材料
钢铁和有色金属检测
矿料分析
RoHS检测
