金相法是通过用金相显微镜检查被测零件的断面来测量金属镀层及氧化物覆盖层的厚度，具有高、重现性好等特点。一般用于对镀层厚度有要求的产品测厚或校验和仲裁其他测厚方法。
测试设备：金相显微镜
铁基上镀镍测厚仪参考标准：GB/T 6462, ISO 1463,ASTM B487
快门类型：面阵;光学尺寸：1/4英寸;有效像素：659(H)×494（V）;有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
铁基上镀镍测厚仪主要特点：
1、测量数据数字化存储、图形显示，准确、直观，测量高。
2、*过三十八种以上的可测量镀层，以及所有导电性镀层。丝状线材和其它异形底材镀层；
3、实时动态显示电位变化曲线、可识别和测量合金层或其它中间层；
4、自动详细分析多层镍等类似镀层的电位差值及厚度，评价其耐腐蚀性能；
5、测量多层镍*三电系统，不用x-y记录仪，仪器***，使用*方便；
6、能分辨不同成份的镀层、评价镀层的均匀性，进而判定镀液的状况、添加剂的性能；
7、监视测量是否准确、详细分析测量数据，选择打印测量曲线和标准格式；
8、测量数据便于长期保存、随时调用，可以利用其它软件进行数据处理；
9、操作简便、迅速，*记忆测量种类代码等。仪器可自行检定；
10、软件*升级，测量镀层种类不断增加。根据用户要求定制软件，或增加特别硬件。
铁基上镀镍测厚仪技术参数：外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm；样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ；测试时，可开盖，对样品长度无限制；检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。样品台尺寸：230(W)×210(D)mm；范围：50(X)mm， 50(Y)mm；Z轴升降平台升降范围：0-140mm；2、仪器重量：90kg；3、SDD半导体探测器：探测器输入电压：±12V，+5V；探头窗口面积：25mm-2---；探头窗口厚度：0.5mil分辨率：140±5eV；；探头内制冷温度：<-40℃；4、X射线光管：管压：5-50kV；管流：0-1；材：W；窗口：窗制冷方式：风冷；工作温度：≤75℃；5、高压发生器：输入电压：24V；输入电流：**；管压：0-50kV；管流：0-2；灯丝电压：5V;灯丝电流：3.**;;6、MCA多道分析器：;输入电压：±12V，+5V;;采样频率：100 KHZ
性能特点
铁基上镀镍测厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
**平台可测试点，重复定位小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制平台，鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头使分析结果*加，良好的射线屏蔽作用。测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型：铁基上镀镍测厚仪Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序多次测量重复性可达0.1%长期工作稳定性可达0.1%度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和机构；电镀行业。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本15392万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
